
您的位置:網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文章 > HAST試驗箱原理用途 HAST試驗箱試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間,用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗,廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗 。
1.HAST試驗箱最新優(yōu)化設(shè)計,美觀大方,做工精細。

4.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)。
HAST高加速應(yīng)力篩選試驗用 途:
主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCT主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體。
HAST高加速應(yīng)力篩選試驗技術(shù)規(guī)格:
型號 | SEST-S250 | SEST-S350 | SEST-S450 | SEST-S550 | |
工作室尺寸(cm) | ? 25×35 | ? 30×45 | ? 40×55 | ? 50×60 | |
性 | 溫度范圍 | 105~132℃ | |||
濕度范圍 | 100%RH飽和蒸汽(不可調(diào))// 65%RH~100%RH非飽和蒸汽(可調(diào)) | ||||
溫度均勻度 | ≤2℃ | ||||
濕度均勻度 | ≤±5%RH | ||||
壓力范圍 | 1.2~2.89kg(含1atm) | ||||
加壓時間 | 約45/Min | ||||
溫度控制器 | 中文彩色觸摸屏+ PLC控制器(控制軟件自行開發(fā)) | ||||
循環(huán)方式 | 強制對流循環(huán)方式 | ||||
結(jié)構(gòu) | 標準壓力容器 | ||||
加濕系統(tǒng) | 電熱管 | ||||
加濕用水 | 蒸餾水或去離子水(自動補水) | ||||
電源 | AC380V 50Hz三相四線+接地線 | ||||
材料 | 外殼材料 | 冷軋鋼板靜電噴塑(SETH標準色) | |||
內(nèi)壁材料 | SUS316不銹鋼板 | ||||
保溫材料 | 玻璃纖維棉 | ||||
電壓 | 220V~240V 50/60HZ單相 | ||||
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